SINTEF har tilgang til et bredt spekter av state-of-the-art karakteriseringslaboratorier og modelleringsverktøy, enten gjennom egne fasiliteter eller gjennom partnerskap med andre forskningsinstitusjoner. Eksempler av slike partnerskap er de nasjonale utstyrsfasilitetene NORTEM (Norwegian Centre for Transmission Electron Microcopy) og NICE (National Surface and Interface Characterisation Laboratory), begge under ledelse av SINTEF.
Vi tilbyr blant annet kompetanse innen:
- Atomskala-modellering, mikrostruktur- modellering, termodynamisk modellering og multi-skala modellering.
- Høy oppløsning strukturell analyse av materialer ved hjelp av SEM/TEM, røntgen diffraksjon/absorpsjon og assosierte teknikker.
- Kjemisk karakterisering av overflater ved hjelp av XPS, AES, SIMS, GD-MS and GD-OES.
- Analyse av overflatetopografi med høy presisjon ved hjelp av AFM, WLI.
- Kjemisk- og struktur-analyse av enkle og blandede materialer ved hjelp av NMR.
- Kjemisk analyse ved hjelp av LC/GC/FTICR-MS.
Innen karakteriseringsteknikker og modellering utfører vi:
- Måling av overflatetopografi med hvitlysinterferometri (WLI) og atomkraftmikroskopi (AFM)
- Analyse av kjemisk sammensetning av overflater med røntgenfotoelektronspektroskopi (XPS) og sekundærionbasert massespektrometri (SIMS)
- Sveipeelektronmikroskopi (SEM) og transmisjonselektronmikroskopi (TEM) med tilhørende spektroskopiteknikker basert på energidispersjon (EDS) og elektron-energitap (EELS).
- Pulverrøntgendiffraksjon (PXD) og målinger in situ.
- Elektronstrukturberegninger på atomistisk nivå.
Materialsystemer og egenskaper vi arbeider med:
- Solceller
- Termoelektriske materialer
- Aluminium
- Nikkel og stål
- Silisium
- Fasetransformasjonsmaterialer
- Tette metallmembraner
- Diffusjonseffekter
- Elektriske egenskaper
- Strukturelle egenskaper og egenskaper
- Termodynamiske egenskaper
- Transportegenskaper
- Faststoffysikk, fysisk metallurgi, materialvitenskap
Relevante lenker:
Laboratorium for avansert materialkarakterisering