Characterization of thin and ultrathin transparent conducting oxide (TCO) films and TCO-Si interfaces with XPS, TEM and ab initio modeling
Kategori
Vitenskapelig artikkel
Språk
Engelsk
Forfatter(e)
- Spyridon Diplas
- Ole Martin Løvvik
- Heidi Nordmark
- Despoina Maria Kepaptsoglou
- Joachim Seland Graff
- Cecile Ladam
- Frode Tyholdt
- John Walmsley
- Anette Eleonora Gunnæs
- Ragnar Fagerberg
- Alexander G. Ulyashin
Institusjon(er)
- SINTEF Industri
- Universitetet i Oslo
- SINTEF Industri / Materialer og nanoteknologi
- SINTEF Digital / Smart Sensors and Microsystems
- SINTEF Industri / Metallproduksjon og prosessering
År
2010Publisert i
Surface and Interface Analysis
ISSN
0142-2421
Årgang
42
Hefte nr.
6-7
Side(r)
874 - 877