Ingvild er seniorforsker ved SINTEF og tilknyttet Halvlederfysikkgruppen ved Universitetet i Oslo i en 20% stilling. Hun fokuserer på materialkarakterisering og har ~15 års erfaring med fotoelektronspektroskopi (XPS). Hun er leder av et FRIPRO-Unge Forskertalent-prosjekt omhandlende halvledermaterialet Ga2O3, som er aktuelt for kraftelektronikk. Hun jobber også tett med lokale SME’er med utvikling av batterimaterialer.
Utdanning
2013 - PhD:
Fysisk Institutt, Universitetet i Oslo (UiO).
Teknikker: X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) og Density functional theory calculations (DFT).
Tittel: "Combined experimental and computational study of the meta-stable Mg-Ti-H system."
2006 - Master:
Fysisk Institutt, Universitetet i Oslo (UiO) og Institutt for Energiteknikk (IFE).
Teknikker: Powder X-ray og neutron diffraction (inkludert synkrotron@ESRF), Rietveld refinement, desorption spectroscopy, arc melting.
Tittel: "Structural studies of hydrides of Zr2Cu, Zr2Pd and LaPtIn."
Kompetanse og fagområder
XPS er en anvendelig teknikk som brukes til å studere materialoverflater. Både kjemiske egenskaper (kvantisering av elementer og identifisering av kjemiske faser) og elektriske egenskaper (båndstruktur i halvledermaterialer) kan undersøkes. Ingvild har bred erfaring fra både akademisk grunnforskning og utviklings- og innovasjonsprosjekter i samarbeid med norske bedrifter. Nåværende og tidligere prosjekter inkluderer materialer for fotokatalyse, solceller, batterielektroder, hydrogenlagring, konstruksjonsmaterialer, sensorer og komponenter for elektronikk. Aktiviteten inkluderer også eksperimenter ved internasjonale stor-skala synkrotroninfrastukturer, med spesielt fokus på "operando" XPS, dvs målinger ved realistiske betingelser (i gass/væske, kontrollert temperatur, elektrisk potensial).
